Metal Dünyası

Dr.–Müh. Onur BALKAN, Metalürji & Malzeme Müh.
Dr.–Ing. Savaş YAVUZ, Metalürji & Malzeme Müh.
TeknoLab, Teknoloji Laboratuvar Hiz. Ltd. Şti.

*Positive Material Identification

ÖZET

Pozitif Malzeme Tanımlama (Positive Material Identification, PMI) veya diğer adıyla Alaşım Doğrulama (Allow Verification, AV) kısaca malzemelerin kimyasal kompozisyonunu pratik, hızlı, tahribatsız ve güvenilir olarak kontrol etmek ve onaylamak amacıyla uygulanan işlemler olarak tanımlanabilir. Bu çalışmanın amacı PMI/AV uygulama alanları, dünya PMI/AV pazarı ve PMI/AV spektrometreleri hakkında kısaca bilgi vermektir.

Anahtar kelimeler: Pozitif Malzeme Tanımlama, Alaşım Doğrulama, PMI/AV, Spektrometre.

ABSTRACT

Positive Material Identification (PMI), so called Allow Verification (AV), can be described as practical, rapid, non–destructive, and reliable control and verification processes for determination of the chemical composition of materials. The goal of this paper is to briefly inform us about PMI/AV application scopes, global PMI/AV marketing, and PMI/AV spectrometers.

Keywords: Positive Materials Identification, Alloy Verification, PMI/AV, Spectrometer.

1. PMI/AV Nedir?
Pozitif Malzeme Tanımlama (Positive Material Identification, PMI) veya Alaşım Doğrulama (Alloy Verification, AV) ilgili standartlar ve teknik şartnameler doğrultusunda, tahribatsız yöntemlerle, kısa sürede, pratik ve güvenilir olarak malzemelerin kimyasal kompozisyonlarının tespiti veya doğrulanması olarak ifade edilebilir [1–10]. Standart PMI raporu, toplu ürün (bulk items) PMI raporu, tam kimyasal (full chemical) PMI raporu gibi çeşitli türlerde düzenlenmiş PMI raporları mevcuttur [9]. Genel olarak, PMI/AV raporlarında bulunması gereken bilgilerden bazıları şöyle sayılabilir: Numune tanımı/tarifi, parti kimlik numarası (lot identification number), standart malzeme bilgisi/kodu (örneğin, SAE 1065, SS 304L, GGG 70, vs.), tespit edilen elementler ve oranları, analiz sonucu (kabul/ret) ve tarihi, PMI/AV işlemini yapan kişi ve kuruluş, kullanılan PMI/AV spektrometresinin modeli, vs. [9].

2. PMI/AV Uygulama Alanları
Malzeme kompozisyonunun önemli olduğu havacılık/uzay [11, 12], otomotiv [5, 13], petrokimya [14–18], hidroelektrik [19] ve nükleer reaktör tesislerinde, savunma sanayiinde, tersanelerde, madencilikte (cevher analizi) [20–22], medikal uygulamalarda [23, 24], hammadde, yarı–mamul, mamul, hurda alımlarında, hurda ayıklanmasında [5, 6, 25, 26], karışma ihtimali olan ve/veya tanımlanamayan mevcut malzemelerin kontrolünde, korozyon ihtimali olan konstrüksiyon ve tesisatlarda [14, 15, 27–29], dökme/dövme demirin [30], kaynak metalinin [31, 32], sert lehimin [33], mücevherlerin (örneğin kıymetli metallerin) [34–38], arkeolojik buluntuların [36–40], vs. elemental analizinde PMI/AV işlemleri yaygın olarak uygulanmaktadır [2–4, 8–10, 41]. Özellikle havacılık/uzay ve otomotiv endüstrilerinde daha üstün nitelikteki hafif malzemelere duyulan ihtiyaç alüminyum, magnezyum, titanyum gibi hafif metaller içeren özel alaşımların ve çeşitli kompozitlerin üretilmesini teşvik ederken, buna paralel olarak bu kritik malzemelerin PMI/AV işlemlerinin önemini de arttırmaktadır [5]. PMI/AV işlemleri sayesinde yanlış bir alaşımın kullanılması sonucu ileride oluşabilecek korozyon ve buna bağlı hasarlar önlenebilmektedir [14, 15, 27–29]. Kaynak işlemlerinde kullanılan ilave kaynak teli, elektrotu ve diğer sarf malzemeleri kontrol edilebilmekte, yanlış alaşım ve malzeme kullanımı kaynak metali üzerinden direkt olarak tespit edilebilmektedir [31, 32]. PMI/AV işlemlerinin yayınlaşmasını sağlayan diğer bir unsur da yasal mevzuattır [2, 7, 26, 42]. Uluslararası sözleşmeler (Basel Sözleşmesi––Tehlikeli Atıkların Sınırlarötesi Taşınımının ve Bertarafının Kontrolü, Minamata Cıva Sözleşmesi, vs.) ve Avrupa Birliği mevzuatı (REACH Tüzüğü––Kimyasalların Kaydı, Değerlendirilmesi, İzni ve Kısıtlanması, RoHS Yönergesi––Elektrikli ve Elektronik Eşyalarda Bazı Zararlı Maddelerin Kullanımının Sınırlandırılması, Oyuncak Güvenliği Yönergesi, vs.) paralelinde hazırlanan ulusal mevzuatımız belli malzemeler için PMI/AV işlemlerini zaruri hale getirmektedir [42].

3. Dünya PMI/AV Pazarı
Markets & Markets Research Private Ltd. isimli özel araştırma şirketinin Mart 2018 tarihinde yayımladığı rapora [7] göre küresel PMI pazarı 2017 yılında $ 1,82 Milyar iken, 2023 yılında $ 2,89 Milyara ulaşacak ve 2018–2023 yılları arasındaki yıllık bileşik büyüme oranı (Compound Annual Growth Rate, CAGR) %7,79 olacaktır. PMI pazarındaki en büyük paya Asya–Pasifik ülkelerinin sahip olduğu (Asya–Pasifik ülkeleri: %40, Kuzey Amerika: %20, Avrupa: %16, diğer ülkeler: %24) ve bu ülkelerin havacılık, savunma ve otomotiv endüstrilerindeki gelişmelerle birlikte PMI pazarındaki paylarının artacağı belirtilmektedir. Bu raporda, tabanca–tipi X–Işını Floresan (Hand–Held X–Ray Fluorescence, HH–XRF) ve masaüstü/mobil–tip ark/kıvılcım–Optik Emisyon Spektrometre (Arc/Spark–Optical Emission Spectrometer, OES) cihazlarının kullanımları karşılaştırılmış; HH–XRF spektrometrelerin daha pratik ve ucuz olması, her tür (metal, seramik, polimer, ahşap, kompozit, vs.) ve şekildeki malzemelerin elemental analizlerini tamamen tahribatsız olarak yapabilmesi sebebiyle PMI pazarında daha fazla tercih edildiği rapor edilmiştir. Knowledge Sourcing Intelligence LLP araştırma şirketinin Mayıs 2019 tarihli raporuna [8] göre PMI pazarı 2018 yılında $ 2,15 Milyar iken, 2024 yılında $ 3,19 Milyara ulaşacak ve 2018–2024 yılları arasındaki yıllık bileşik büyüme oranı (CAGR) %6,85 olacaktır. Maximize Market Araştırma Şirketi’nin raporuna [43] göre ise, küresel PMI pazarı 2016 yılında $ 1,68 Milyar iken, 2024 yılında $ 2,98 Milyara ulaşacak ve 2017–2024 yılları arasındaki yıllık bileşik büyüme oranı (CAGR) %7,43 olacaktır. Global Industry Analysts, Inc. araştırma şirketinin Ekim 2019 tarihli raporuna [44] göre küresel PMI pazarı %7,4 CAGR ile $ 1,3 Milyar artarak 2025 yılında $ 2,7 Milyarın üzerine çıkacaktır.

4. PMI/AV Spektrometreleri
Portatif, pratik, hızlı ve güvenilir olmaları sebebiyle PMI/AV işlemlerinde yaygın olarak X–Işını Floresan (X–Ray Fluorescence, XRF) ve ark/kıvılcım–Optik Emisyon Spektrometre (Arc/Spark–Optical Emission Spectrometer, OES) cihazları kullanılmaktadır [14, 15, 25, 27, 45–47]. Şekil 1.’de ilgili standartlar ile PMI/AV spektrometrelerinin sınıflandırılması görülmektedir. Ergonomik olmaları bakımından özellikle tabanca–tipi (Hand–Held, HH) ve mobil/portatif cihazlar daha çok tercih edilmektedir. Böylece, ölçümler mamulün/yarı–mamulün bulunduğu yerde (sahada/şantiyede) oldukça hızlı ve pratik olarak yapılabilmektedir; işletmedeki tüm malzemelere PMI/AV (%100 PMI/AV) uygulama imkânı bulunabilmektedir (ISO 9000 sertifikasyonu %100 PMI/AV gerektirir). Bu çalışmada, PMI/AV spektrometreleri konusuna kısaca değinildi. Gelecek yayınlarımızda bu spektrometreler konusunda daha geniş bilgi verilecektir [48, 49].

4.1. HH–XRF Spektrometre
Her tür (metal, seramik, polimer, kompozit, vs.) malzemedeki atom numarası 12–92 arasında değişen (12Mg–92U; Şekil 2.) elementler tamamen tahribatsız olarak analiz edilebilmektedir. Analiz süresi standart alaşımlar (22Ti–92U) için azami 3–5 saniye iken, hafif elementlerin (12Mg–22Ti) analizinde bu süre biraz daha uzamaktadır (>10 saniye) [2, 47, 51]. Şekil 3.’de bir HH–XRF spektrometre cihazı kullanılarak bir petrol rafinerisinde PMI/AV uygulaması görülmektedir.

4.2. Ark/Kıvılcım–OES
Metal endüstrisindeki PMI/AV işlemlerinde, genelde elektrik ark/kıvılcım–OES cihazları kullanılmaktadır [1, 2, 52, 53]. Bu cihazlar ile metalik alaşımlardaki karbon (6C), azot (7N), fosfor (15P), kükürt (16S) gibi birçok kritik element ve iz elementleri (<100 ppm) tespit edilebilmektedir [54]. Ark–OES için test (yakma) süresi yaklaşık olarak 8 saniyedir. Bununla birlikte, bu süre test edilen malzemenin türüne göre değişebilir. Örneğin, pik ve sfero (küresel grafitli dökme demir) gibi döküm malzemelerde yakma süresi biraz daha uzunken, çelik ve alüminyumda daha kısadır. Alüminyum alaşımlarda silisyum oranı %5’in üzerinde ise yakma işlemi yine uzun sürebilir. Metallerdeki iz elementlerinin (trace elements, <100 ppm) kıvılcım–OES yöntemi ile analizinde, test süresi biraz daha uzun sürebilir (3–6 dakika/test). Düşük oranlardaki karbon (6C), kükürt (16S) ve azot (7N) elementlerinin analizlerinde, test süresi 2 dakika daha uzar [54].

XRF ile karşılaştırıldığında, OES cihazları metallerdeki özellikle hafif elementlerin analizinde daha hızlı ve güvenilir sonuç verir. Bunun yanında, radyasyon tehlikesi de yoktur. Arkın tetiklenmesini ve kararlılığını sağlamak, plazma ışığını arttırmak ve plazma ile optik algılayıcılar/detektörler arasında UV ışığının hava tarafından absorbe edilmeden geçişini sağlayan bir ortam oluşturmak için optik bölgeye (ark/kıvılcım odacığına) argon gazı gönderilir [55].

Şekil 4.’de mobil/portatif–tip ark/kıvılcım–OES cihazı kullanılarak yapılan bazı PMI/AV uygulamaları görülmektedir. Eldeki bir metalik malzemeye ark/kıvılcım–OES probu/ucu ile kolaylıkla PMI/AV uygulanabilmektedir (Şekil 4.a.). Bunun yanında, PMI/AV uygulanan malzemelerin yüzeyleri kir, pas, boya ve kaplamalardan arındırılmış olmalıdır (Şekil 4.b.). Tel ve boru gibi çeşitli şekillerdeki malzemeler için uygun adaptörler kullanılabilir (Şekil 4.c. ve d.). 

Ark/kıvılcım–OES cihazları da bazı dezavantajlara sahiptir. Malzeme üzerinde ~10 mm çapında yanık izi (burn spot) şeklinde tahribata yol açmaktadır (Şekil 5.a). Bu sebeple, bir metalin ark/kıvılcım–OES ile test edilmesi işlemine “yakma” denir. Bazı metallerde bu yanık izinin etrafında istenmeyen “ısıl çatlakların” da oluşması muhtemeldir. Elektrot aksamı ve ark/kıvılcım odacığı bakım/onarım ve temizlik gerektirir. Özellikle elektrot ucu her testten sonra temizlenmeli/fırçalanmalıdır. Aksi taktirde, elektrot ucunda kalan önceki testlerin malzeme kalıntıları istenmeyen “hafıza tehlikesi”ne sebep olmaktadır; analiz sonuçlarını saptırabilmektedir. Hafıza tehlikesine karşı daha güvenli bir seçenek olarak, çeşitli uçlar takılabilen yıldız–elektrotlar kullanılabilir. Her bir testten sonra elektrot ucu birbiri ardına değiştirilebilir [53].

4.3. Lazer–OES
Uyarıcı olarak lazer ışını kullanılan bir tür optik emisyon spektrometresidir. Lazer–OES’nin literatürde geçen diğer isimlerinden bazıları LIBS (Laser–Induced Breakdown Spectroscopy), LIPS (Laser–Induced Plasma Spectroscopy), LASS veya LSS (Laser–Spark Spectroscopy), vs. olarak sayılabilir [50]. PMI/AV için potansiyel bir yenilik olarak görülen [5, 51, 54, 56–59] lazer–OES teknolojisi ile her türlü karmaşık şekle sahip (tel, folyo, pim, elektronik parça, vs.) metalik, seramik, polimerik, ahşap, kompozit, vs. malzemelerdeki (hatta sıvı ve gazlardaki) özellikle atom ağırlığı düşük hafif elementler ön–hazırlık işlemleri gerektirmeden (put & play) birkaç saniye içerisinde, atomik seviyede ve neredeyse tahribatsız olarak kolaylıkla tespit edilebilir [54, 57–63]. Bakım/onarım gerektirmeyen, radyasyon yaymayan, argon gazı sarfiyatı çok düşük olan, pratik, portatif ve güvenilir bir PMI/AV spektrometresi olarak kabul edilmektedir [2–6, 54, 60, 65–67]. Şekil 6.’da mobil/portatif–tip lazer–OES cihazının prob/uç kısmı görülmektedir.

Malzeme üzerinde 50–100 µm çapında mikro–yanık izi (μ–burn spot) oluşturur (Şekil 5.b) ki bu iz polisaj ile kolaylıkla giderilebildiği için lazer–OES yöntemi neredeyse tahribatsız sayılır. XRF ve ark/kıvılcım–OES yöntemleri ile incelenen bölge 5–10 mm çapındayken, lazer–OES ile oluşturulan 50–100 μm çapındaki kraterin sadece 15–20 μm çapındaki küçük bir kısmı analiz edilmektedir. Bu sayede, lazer–OES ile çok dar kaynak dikişleri, küçük elektronik/arkeolojik parçalar, cevherler, mücevherler ve çeşitli fazlardan oluşan heterojen malzemelerin veya kompozit malzemelerin elemental analizleri mikro–bölgesel olarak kısa sürede yapılabilmektedir. Küçük ve karmaşık şekilli malzemelerin analizi için çeşitli adaptörler kullanmaya veya malzemeyi kalıba almaya gerek yoktur. Şekil 7.’de bir Roma sikkesinin kesit yüzeyine 3 farklı noktada (93, 94 ve 95) uygulanmış lazer–OES (LIBS) ölçümlere ait mikro–yanık izleri ve 95 numaralı ölçüme ait dalgaboyu–şiddet (wavelength–intensity) grafiği görülmektedir. Bu grafikten Roma sikkesinin elemental ölçüm sonuçları alınabilmektedir [64].

Ark/kıvılcım–OES cihazlarıyla karşılaştırılırsa, lazer–OES cihazlarında elektrot aksamı bulunmadığı için önceki testlerden elektrot üzerine malzeme kalıntısı bulaşması (kirlenme) problemi olmaz; istenmeyen “hafıza etkisi” meydana gelmez. Optik sistem toz geçirmez olarak mühürlü olup, lazer–OES cihazları tamir/bakım/onarım ve temizlik gerektirmez. Ark/kıvılcım–OES cihazlarına göre, lazer–OES cihazlarında argon gazı sarfiyatı oldukça düşüktür; ~%90 mali tasarruf sağlanır.

5. Sonuçlar
Bu çalışmada, öncelikle PMI/AV işlemleri kısaca açıklandı. PMI/AV uygulama alanları ve dünya PMI/AV pazarı gelişim tahminleri hakkında bilgi verildi. Son olarak, PMI/AV spektrometreleri (HH–XRF, ark/kıvılcım–OES ve lazer–OES) karşılaştırmalı olarak tanıtıldı. HH–XRF ile her tür malzemedeki sadece ağır elementler tamamen tahribatsız olarak analiz edilebilirken, ark/kıvılcım–OES ile metalik malzemelerdeki neredeyse tüm elementler kısmen tahribatlı olarak analiz edilebilmektedir. PMI/AV için potansiyel bir yenilik olarak görülen lazer–OES teknolojisi ile hemen her tür ve şekle sahip malzemelerdeki tüm elementler neredeyse tahribatsız olarak analiz edilebilmektedir.

6. Referanslar
1. W. Bussman, G. Mayeld, J.D. McAdams, M. Pappe, J. Hembree, “Chapter 4–Metallurgy”, Editör: C.E. Baukal, Jr., the John Zink Hamworthy Combustion Handbook, Volume 2–Design and Operations, CRC Press, 2013, 94–132.
2. E. Kantonen, J.I.H. Patterson, “PMI as Quality Assurance Tool for Production”, MaintWorld Magazine, Kasım 2014, 4, 44–47.
3. J.I.H. Patterson, “Choose the Right Tool for the Right Job – Selecting between XRF and LIBS Hand–Held Analyzers”, Recycling Today, October 2015, 54–60.
4. K. Barker, “Equipment Focus: Handheld Scrap Analyzers –– LIBS vs XRF”, Recycling Product News, Mart 2018, 48–54.
5. L. Brooks, T. Mortvedt, G. Gaustad, A.J. Gesing, “Potential for Handheld Analyzers to Address Emerging Positive Material Identification (PMI) Challenges”, TMS Annual Meeting & Exhibition, Light Metals 2018, Editör: O. Martin, The Minerals, Metals & Materials Series, Springer, sf. 1131–1135.
6. L. Brooks, G. Gaustad, “Positive Material Identification (PMI) Capabilities in the Metals Secondary Industry: An Analysis of XRF and LIBS Handheld Analyzers”, Editör: C. Chesonis, “Light Metals”, the Minerals, Metals & Materials 

Series, Springer International Publishing, 2019, sf. 1375–1380.
7. “Positive Material Identification Market by Offering (Equipment and Services), Technique (XRF and OES), Form Factor (Portable Analyzers and Benchtop Analyzers), Industry (Chemicals, Automotive, Scrap Recycling), and Geography - Global Forecast to 2023”, Rapor ID # SE 6117, Mart 2018, Markets & Markets Research Private Ltd., Hadapsar/Hindistan, https://www.marketsandmarkets.com/Market-Reports/positive-material-identification-market-57888395.html, Erişim tarihi: 26.09.2019.
8. “Positive Material Identification Market - Forecasts From 2019 To 2024”, Rapor ID # KSI061611734, Mayıs 2019, Knowledge Sourcing Intelligence LLP, Nodia/India, https://www.researchandmarkets.com/research/mdpbl4/3_19_bn_positive?w=5,  Erişim tarihi: 26.09.2019.
9. “PMI just in Case”, Just In Case Ltd. http://www.pmijustincase.co.uk/documentation.aspx, Erişim tarihi: 26.09.2019.
10. S. Gunasekaran, P. Kuppuraj, K. Priya, “Determine the Chemistry of Selected Steel by NDE Technique of Positive Material Identification (PMI)”, International Journal of Science and Research, 2014, 3, 9, 662–669.
11. R. Ritterbeck, “Assessing Aerospace Risk Management”, Quality, 2011, 50, 11, 34–37.
12. G.W. Fraser, “Extraterrestrial Analysis: Planetary X–Ray Fluorescence from Orbiting Spacecraft and Landers”, Editör: P.J. Potts, M. West, “Portable X–Ray Fluorescence Spectrometry: Capabilities for In Situ Analysis”, Chapter 10, RSC Publishing, Cambridge, 2008, sf. 247–278.
13. J.-M. Böhlen, R. Yellepeddi, “Improved Spectrometry Provides Fast Analysis for the Steel Industry”, Steel Times International, 2010, 34, 3, sf. 50, 52, 57.
14. J. Walker, “Corrosion Prediction in Process Piping Using Handheld X–Ray Fluorescence (XRF)”, Corrosion–2011, 13–17 Mart 2011, NACE International Institute, Houston, Texas, USA.
15. M. Hull, A. Thurston, D. Hillhouse, “XRF Advancements Improve Detection of Trace Silicon in Carbon Steel in On–line, High Temperature Process Piping and Components”, ASNT Annual Conference–2016, 24 Ekim 2016, Long Beach, California, USA.
16. D.J. Benac, P. McAndrew, “Reducing the Risk of High Temperature Hydrogen Attack (HTHA) Failures”, Journal of Failure Analysis and Prevention, 2012, 12, 624–627.
17. K. Greene, G. Donikowski, “In-Situ Nondestructive Positive Material Identification Testing For Determining Carbon Steel Pipeline Material Properties”, ASNT Annual Conference 2014, 27 Ekim 2014, USA.
18. K.J. Greene, C. Caraway, G. Donikowski, J. Troyer, “System and Method for Non–Destructıve, In Situ, Positive Material Identification of a Pipe”, US Pantent, US 9,880, 56 B2, 30.01.2018.
19. F. Kawamura, M. Miura, R. Ebara, K. Yanas, “Material Strength of Long-Term Used Penstock of a Hydroelectric Power Plant”, Case Studies in Structural Engineering, 2016, 6, 103–114.
20. G. Liangquan, “Geochemical Prospecting”, Editör: P.J. Potts, M. West, “Portable X-Ray Fluorescence Spectrometry: Capabilities for In Situ Analysis”, Chapter 7, RSC Publishing, Cambridge, 2008, sf. 141–173.
21. W.O. Siyanbola, A.Y. Fasasi, I.I. Funtua, M.K. Fasasi, I.A. Tubosun, D.A. Pelemo, T.A. Adesiyan, “Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis of Samples of the Nigerian Zircons”, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, 2005, B 239, 426–432.
22. J. Burlakovs, F. Kaczala, K. Orupõld, A. Bhatnagar, Z. Vincevica-Gaile, V. Rudovica, M. Kriipsalu, M. Hogland, M. Stapkevica, W. Hogland, M. Klavins, “Field-Portable X-Ray Fluorescence Spectrometry as Rapid Measurement Tool for Landfill Mining Operations: Comparison of Field Data vs. Laboratory Analysis”, Intern. J. Environ. Anal. Chem., 2015, 95, 7, 609–617.
23. A.-C. Mocanu, A.F. Dobre, C.-A. Dascalu, A. Maidaniuc, A. Ernuteanu, M. Soare, R. Zamfir, D. Gheorghe, A. Saceleanu, V. Saceleanu, “Extensive Quality Control Sequence for Non-Destructive Characterization of Implants for Dental Restorations”, U.P.B. Sci. Bull., 2019, Series B, 81, 2, 225–238.
24. A.K. Chaubey, S.K. Mishra, R. Chowdhary, “Positive Material Identification Testing of Dental Implant to Correlate their Compositions with Allergic Conditions”, Journal of Oral Biology and Craniofacial Research, 2009, 9, 294–298.
25. L. Brooks, G. Gaustad, A. Gesing, T. Mortvedt, F. Freire, “Ferrous and Non-Ferrous Recycling: Challenges and Potential Technology Solutions”, Waste Management, 2019, 85, 519–528.
26. N. Menad, S. Guignot, J.A. van Houwelingen, “New Characterisation Method of Electrical and Electronic Equipment Wastes (WEEE)”, Waste Management, 2013, 33, 706–713.
27. A. Thurston “Critical Element Alloy Material Testing/PMI Using Handheld X–Ray Fluorescence”, ASNT Annual Conference–2017, 30 Ekim – 02 Kasım 2017, Nashville, Tennessee, USA.
28. T.C. Kalu-Ulu, A.E.M. Salameh, “Issues of Material Compatibility in Artificial Lift Completions: Case Study of Harsh Water Wells”, SPE Middle East Oil & Gas Show & Conference, 6–9 Mart 2017, Manama, Kingdom of Bahrain.
29. R. Riastuti, S.T. Siallagan, Z. Rahmat, B.A.H. Bancin, “The Study of Mechanical Properties and Corrosion Resistance of Molybdenum Coating and Aluminum Coating Using Thermal Spray Method on Stainless Steel 316L”, 2nd Nommensen International Conference on Technology and Engineering, 19–20 Temmuz 2018, Medan, Indonesia (IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering), 2018, 420, 012058.
30. S.P. Sparks, “Evaluation of Iron and Steel in Historic Bridges”, Editör: D. D’Ayala, E. Fodde, “Structural Analysis of Historic Construction: Preserving Safety and Significance”, 1. Cilt, CRC Press, Taylor & Francis Group, London, 2008, sf. 451–458.
31. M. Heidari, B. Torkjazi, “Evaluation of AISI 316L Stainless Steel Welded Blind to Nozzle in a Pressure Vessel”, 23rd Annual Research Symposium 2014, 24 Mart 2014, USA.
32. A. Babbar, A. Kumar, V. Jain, D. Gupta, “Enhancement of Activated Tungsten Inert Gas (A-TIG) Welding Using Multi–Component TiO2–SiO2–Al2O3 Hybrid Flux”, Measurement, 2019, 148, 106912.
33. P W. Fuerschbach, “Effect of Processing on Environmental Degradation of Brazed and Plated Kovar Leads”, Technical Report of U.S. Department of Energy, Office of Scientific and Technical Information, Report Number(s): SAND-81-2601, 01.05.1982, doi:10.2172/5198725.
34. T. Cernohorsky, M. Pouzar, K. Jakubec, “ED XRF Analysis of Precious Metallic Alloys with the Use of Combined FP Method”, Talanta, 2006, 69, 538–541.
35. M. Resano, E. Garcia-Ruiz, M.A. Belarra, F. Vanhaecke, K.S. McIntosh, “Solid Sampling in the Determination of Precious Metals at Ultratrace Levels”, Trends in Analytical Chemistry, 2007, 26, 5, 385–395.
36. L. Pappalardo, A.G. Karydas, N. Kotzamani, G. Pappalardo, F.P. Romano, Ch. Zarkadas, “Complementary Use of PIXE-Alpha and XRF Portable Systems for the Non-Destructive and In Situ Characterization of Gemstones in Museums”, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, 2005, B 239, 114–121.
37. A.G. Karydas, D. Kotzamani, R. Bernard, J.N. Barrandon, Ch. Zarkadas, “A Compositional Study of a Museum Jewellery Collection (7th–1st BC) by Means of a Portable XRF Spectrometer” Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, 2004, B 226, 15–28.
38. J.L. Mass, C. Matsen, “Quantitative Non–Destructive Analysis of Historic Silver Alloys: X–Ray Fluorescence Approaches and Challenges”, Editör: A.N. Shugar, J.L. Mass, “Handheld XRF for Art and Archaeology”, Chapter 7, Leuven University Press, Belçika, 2012, sf. 215–248.
39. S. Domínguez–Bella, “Archaeomineralogy of Prehistoric Artifacts and Gemstones”, Editör: J.M. Herrero, M. Vendrell, “Archaeometry and Cultural Heritage: the Contribution of Mineralogy”, 2012 Seminarios, Cilt 9, Sociedad Española de Mineralogía (SEM), Madrid, sf. 5–28.
40. A.N. Shugar, J.L. Mass, “Introduction”, Editör: “Handheld XRF for Art and Archaeology”, Chapter 1, Leuven University Press, Belçika, 2012, sf. 17–36.
41. M.W. Hull, “Focus: Accuracy, Precision, and Confidence in X-ray Fluorescence for Positive Material Identification”, NDT Technician Newsletter, TNT, Ocak 2017, 16, 1, 1–6.
42. O. Balkan, S. Yavuz, “Plastik Ürünlerdeki Sağlığa Zararlı Maddelerin Kontrolü ve Kısıtlanmasına Dair Yasal Mevzuat”, Plastik & Ambalaj Teknolojisi Dergisi, Mart 2019, Sayı: 249, sf. 50–58.
43. “Global Positive Material Identification Market – Industry Analysis and Forecast (2017-2024) _ by Offering (Services, Equipment), by Technique (Optical Emission Spectrometry (OES), X-Ray Fluorescence (XRF)), by Form Factor (Benchtop An, Portable Analyzers), by Industry, and by Geography”, Rapor ID # 3146, Maximize Market Research Private Ltd., Maharashtra/Hindistan, https://www.maximizemarketresearch.com/market-report/global-positive-material-identification-market/3146/#details. Erişim tarihi: 26.09.2019.
44. “Positive Material Identification - Market Analysis, Trends, and Forecasts”, Global Industry Analysts, Inc., Rapor ID # MCP14131, Mayıs 2019, Global Industry Analysts, Inc., USA, https://www.strategyr.com/market-report-positive-material-identification-forecasts-global-industry-analysts-inc.asp,  Erişim tarihi: 26.09.2019.
45. J. Pasmore, “Recent Developments in Handheld X–Ray Fluorescence (XRF) Instrumentation”, ASNT Annual Conference–2009, Fall Conference & Quality Testing Show, 19 Ekim 2009, USA.
46. S. Piorek, “Alloy Identification and Analysis with a Field–Portable XRF Analyser”, Bölüm 6, Portable X–Ray Fluorescence Spectrometry; Capabilities for In Situ Analysis, Ed. P.J. Potts & M. West, RSC Publishing, 2008, sf. 98–140.
47. R. Cesareo, A. Brunetti, A. Castellano, M.A.R. Medina, “Portable Equipment for X–Ray Fluorescence Analysis”; Editör: K. Tsuji, J. Injuk, R. Van Grieken, “X–Ray Spectrometry: Recent Technological Advances”, John Wiley & Sons Ltd., 2004, 307–341.
48. O. Balkan, S. Yavuz, “Pozitif Malzeme Tanımlama Spektrometreleri”, Metal Dünyası Dergisi, baskıda.
49. O. Balkan, S. Yavuz, “Pozitif Malzeme Tanımlamada Potansiyel Bir Yenilik –– Lazer–Optik Emisyon Spektrometre Teknolojisi”, Metal Dünyası Dergisi, baskıda.
50. D.A. Cremers, L.J. Radziemski, “Handbook of Laser–Induced Breakdown Spectroscopy”, John Wiley & Sons Ltd., West Sussex, England, 2006, sf. XIII–XVI.
51. X. Hou, B.T. Jones, “Field Instrumentation in Atomic Spectroscopy”, Microchemical Journal, 2000, 66, 115–145.
52. S. Vizcarra, “Tech Overview – Arc/spark Optical Emission Spectrometry”, The Science Advisory Board, Virginia, USA, 19 Ekim 2018, https://www.scienceboard.net/index.aspx?sec=prtf&sub=def&pag=dis&itemId=98&printpage=true&fsec=sup&fsub=chem, Erişim tarihi: 26.09.2019.
53. Z. Zhou, K. Zhou, X. Hou, H. Luo, “Arc/Spark Optical Emission Spectrometry: Principles, Instrumentation, and Recent Applications”, Applied Spectroscopy Reviews, 2005, 40, 2, 165–185.
54. M. Hemmerlin, R. Meilland, H. Falk, P. Wintjens, L. Paulard, “Application of Vacuum Ultraviolet Laser-Induced Breakdown Spectrometry for Steel Analysis Comparison with Spark-Optical Emission Spectrometry Figures of Merit”, Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy, 2001, 56, 661–669.
55. E. Rosenberg, U. Panne, “Atomic Absorption Spectrometry (AAS) and Atomic Emission Spectrometry (AES)”, Volume 1, Section 5, Editör: G. Gauglitz, T. Vo-Dinh, “Handbook of Spectroscopy”, WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, Germany, 2003, 421-496.
56. J.D. Winefordner, I.B. Gornushkin, T.Correll, E.Gibb, B.W. Smith, N. Omenetto, “Comparing Several Atomic Spectrometric Methods to the Super Stars: Special Emphasis on Laser Induced Breakdown Spectrometry, LIBS, a Future Super Star”, J. Anal. At. Spectrom., 2004, 19, 1061–1083.
57. M. Scharun, C. Fricke–Begemann, R. Noll, “Laser-Induced Breakdown Spectroscopy with Multi-kHz Fibre Laser for Mobile Metal Analysis Tasks — A Comparison of Different Analysis Methods and with a Mobile Spark-Discharge Optical Emission Spectroscopy Apparatus”,  Spectrochimica Acta, Part B: Atomic Spectroscopy, 2013, 87, 198–207.
58. K. Song, Y.-I. Lee, J. Sneddon, “Recent Developments In Instrumentatıon For Laser Induced Breakdown Spectroscopy”, Applied Spectroscopy Reviews, 2002, 37, 1, 89–117.
59. K. Song, Y.-I. Lee, J. Sneddon, “Applications of Laser-Induced Breakdown Spectrometry”, Applied Spectroscopy Reviews, 1997, 32, 3, 183–235.
60. F. Anabitarte, A. Cobo, J. M. Lopez–Higuera, “Laser–Induced Breakdown Spectroscopy: Fundamentals, Applications, and Challenges,” ISRN Spectroscopy, 2012, Article ID 285240, 12 sayfa, https://doi.org/10.5402/2012/285240, Erişim tarihi: 26.09.2019.
61. A.K. Pathak, R. Kumar, V.K. Singh, R. Agrawal, S. Rai, A.K. Rai, “Assessment of LIBS for Spectrochemical Analysis: A Review”, Applied Spectroscopy Reviews, 2012, 47, 14–40.
62. W.‐B. Lee, J. Wu, Y.-I. Lee, J. Sneddon, “Recent Applications of Laser‐Induced Breakdown Spectrometry: A Review of Material Approaches”, Applied Spectroscopy Reviews, 2004, 39, 1, 27–97.
63. D.A. Cremers, R.C. Chinni, “Laser-Induced Breakdown Spectroscopy—Capabilities and Limitations”, Applied Spectroscopy Reviews, 2009, 44, 6, 457–506.
64. M. Kompitsas, “Laser–Based Analytical Applications by Laser–Induced Plasma Spectroscopy (LIPS)”, http://www.laser-applications.eu/page14.php. Erişim tarihi: 26.09.2019.
65. J. Rakovsky, P. Cermak, O. Musset, P. Veis, “A Review of the Development of Portable Laser Induced Breakdown Spectroscopy and its Applications”, Spectrochimica Acta, 2014, B 101, 269–287.
66. S.J. Rehse, M. Sabsabi, “Laser–Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS): Atomic Emission Spectroscopy One Spark at a Time”, La Physique au Canada, 2015, 71, 4, 243–247.
67. R. Noll, C. Fricke–Begemann, S. Connemann, C. Meinhardt, V. Sturm “LIBS Analyses for Industrial Applications – An Overview of Developments from 2014 to 2018”, J. Anal. At. Spectrom., 2018, 33, 945–956.